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MICROTEST LCR電橋替代美國福祿克FLUKE PM6306，PM6304 LCR電橋，性能和指標更勝*
日期：2013-12-18瀏覽：2544次
MICROTEST LCR電橋替代美國福祿克FLUKE PM6306，PM6304 LCR電橋，性能和指標更勝*
基本度：±0.1%
顯示精度：5位
量測參數：｜Z｜、 ｜Y｜、Θ、R、X、G、B、L、C、Q、D、ESR、DCR
頻率范圍：
6373 20Hz ~ 20KHz
6374 20Hz ~ 100KHz
6375 20Hz ~ 200KHz
6376 20Hz ~ 500KHz
6377 20Hz ~ 1MHz
6378 20Hz ~ 5MHz
6379 20Hz ~ 10MHz
等效電路模式：串聯(lián)/并聯(lián)
運算模式：值/百分比
頻率輸出度：±0.01%
輸出阻抗：100Ω
測試電平：10mV to 2V rms （1m Vrms 分辨率）
量測范圍：
｜Z｜ R X?。?.1 mΩ ~ 100MΩ
｜Y｜ G B?。?0nS ~ 1000S
C：0.01pF ~ >1F
L：0.01nH - 100KH
D：0.00001 ~ 9.9999
Q：0.1 ~ 9999.9
Θ：-180° ~ +180°
DCR：0.1mΩ ~ 100MΩ
Δ%：-999.99% ~ 999.99%
量測速度
Max :30mS
Fast :60mS
Medium :120mS
Slow :500mS
LCD顯示器：320*240 dot-matrix display
偏差校正功能：Zero OPEN / SHORT避免夾具或治具上的雜亂電阻引起誤差
比較器：依主參數或次參數設定上下限
內建式內存, 可儲存64組Multi-step設定
界面：RS-232, GPIB, Handler （option）
中國臺灣益和LCR數字電橋MICROTEST6375，MICROTEST6376，MICROTEST6377替代美國福祿克FLUKE PM6306，PM6304 LCR電橋
產品分類
- 氫檢儀氣密性檢漏檢測儀
- 國產源表，替代keithley
- 穩(wěn)科Wayne Kerr/MICROTEST
- 體積電阻率/表面電阻測試
- 半導體I-V/C-V/I-R測試
- 介電常數/電導率測試方案
- 大眾VW80000/通用GMW3172/ISO16750標準測試
- 電化學工作站/恒電位儀
- IBGT/MOSFET/SiC/GaN測試
- 電池/光伏/汽車充電樁測試
- DESCO/KLEINWACHTER靜電測試
- 體積電阻，電阻計，記錄儀
- 吉時利KEITHLEY/泰克Tektronix
- 安捷倫Agilent/是德KEYSIGHT
- 愛斯佩克ESPEC環(huán)境試驗箱
- 普源RIGOL/致遠ZLG/鼎陽SIGLENT
- Chroma致茂/EEC華儀EXTECH
- 邏輯分析儀/總線協(xié)議測試
- EMI/EMC/EMS電磁干擾兼容
- 賽默飛Thermo X射線光譜儀
- ADCMT愛德萬ADVANTEST
- 賓德BINDER試驗箱
- 博勒飛Brookfield
- 紅外熱像儀
- 美國BK PRECISION
- 梅特勒METTLER
- 物料輪廓顏色缺料視覺篩選
- 愛色麗X-Rite/電色NIPPON
- 艾卡IKA
- 賽多利斯/奧豪斯OHAUS
- 哈希HACH/萬通Metrohm
- 金相切割/鑲嵌/研磨拋光
- ITECH艾德克斯/NGI恩智
- COSMOS氣體/鐵粉濃度計
- 羅德與施瓦茨R&S（惠美HAMEG）
- 同惠/長盛/安柏
- 標準源/計量校準檢定設備
- 晶圓、芯片、屏幕Particle
- 日置HIOKI/國產替代
- 鎖相放大器
- 噪聲/振動/聲學測試方案
- 日本KIKUSUI/IWATSU/HIOKI
- 電聲器件測試設備
- 長盛耐壓絕緣電阻安規(guī)測試
- 永磁軟磁磁通量測試
- 汽車電子標準波形可編程電源
- 安捷倫Agilent色譜質譜GC
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